SEM - Jeol IT 210LA
JEOL IT 210LA — это сканирующий электронный микроскоп (СЭМ), предназначенный для получения изображений с высоким разрешением и расширенного анализа в различных научных и промышленных приложениях. Эта модель принадлежит к серии InTouchScope™ компании JEOL, известной простотой использования, интуитивно понятным управлением с помощью сенсорного экрана и мощными возможностями обработки изображений.
